Найти тему

Использование IBIS-моделей для создания виртуальных прототипов цифровых устройств. Ч.3. Алгоритм построения IBIS-моделей

Перед применением для решения практических задач IBIS-модели должны быть построены. Построение их сводится к идентификации параметров входных и выходных буферов, а также некоторых других характеристик.
Перед применением для решения практических задач IBIS-модели должны быть построены. Построение их сводится к идентификации параметров входных и выходных буферов, а также некоторых других характеристик.

Ч.2 находится здесь.

Алгоритм построения моделей изображен на рис. 1.

Рис. 1. Алгоритм получения IBIS-модели микросхемы
Рис. 1. Алгоритм получения IBIS-модели микросхемы

Рассмотрим, какими путями можно получить IBIS-модель. В настоящее время известно два способа их получения — на основании эксперимента и на основании схемотехнического моделирования ИС. Это определяет разветвленность алгоритма. Если модель строится путем моделирования, то получение модели состоит во введении топологии и параметров схемы в программу моделирования, например, на входном языке SPICE. Далее необходимо промоделировать схему (но в разных режимах, и не один раз), что даст все необходимые характеристики ИС. Затем, используя программу-конвертер, полученные данные переводят в IBIS-модель. Этот процесс происходит автоматически.

Если модель строится путем стендовых измерений, то необходимо сначала снять необходимые характеристики (они снимаются по точкам), затем составить в соответствии со стандартом IBIS-описание микросхемы. К необходимым характеристикам относят:

— для входных буферов:

· описание диодов GND_Clamp и POWER_Clamp;

· емкость полупроводниковой структуры буфера;

· емкость, индуктивность и активное сопротивление выводов.

— для выходных буферов:

· описание нелинейных сопротивлений Pullup и Pulldown;

· переходные характеристики как зависимости напряжения на выходе от времени при переключении выходного буфера из состояния логической единицы в состояние логического нуля и обратно;

· производные напряжения на выходе по времени в начальный момент переходных процессов.

· описание диодов GND_Clamp и POWER_Clamp (снимается по точкам и представляется в виде таблицы);

· емкость полупроводниковой структуры буфера;

· емкость, индуктивность и активное сопротивление выводов.

Заметим, что в зависимости от типа логики, наличия или отсутствия третьего состояния и пр. IBIS-стандарт предусматривает особенности IBIS-описания, которых мы здесь касаться не будем.

К необязательно приводимой в IBIS-файлах относятся следующая информация:

· подключение выводов ИС к шинам GND (POWER), выполняющим одинаковые функции, но разделенным с точки зрения конструкции и имеющим разные имена (снимается по точкам и представляется в виде таблицы);

· характеристики дифференциальных выходов;

· индивидуальные паразитные характеристики выводов ИС;

· условия снятия переходных характеристик и др.

Это далеко не полный список дополнительных параметров, посредством которых происходит повышение адекватности моделей. Таким образом, IBIS-описание ИС может быть различным.

Необходимо отметить, что снятие характеристик буферов при напряжении на них более напряжения питания или менее нуля переводит микросхему в необычный для неё режим. При выборе пределов напряжения на входе или выходе при заполнении соответствующих таблиц нельзя полагаться на интуицию, поскольку это может привести к повреждению микросхемы. Указанные пределы выбираются на основании рекомендаций IBIS-стандарта для данного типа логики и технической документации на микросхему.

Далее сформированный IBIS-файл проверяют при помощи специальной программы на предмет наличия ошибок. Такие программы имеются в свободном доступе и создаются для каждой версии IBIS-стандарта. Обычно программа по строкам читает файл и сверяет его синтаксис с шаблоном. В настоящее время, к сожалению, такая программа доступна только для версии 3.2. Для более поздних версий эти программы должны появиться в ближайшее время.

Далее, если ошибки в файле есть, то мы должны их исправить, что означает его корректировку. В случае безошибочного составления файла проводят моделирование с использованием составленного описания ИС. Если результаты моделирования и измерений на стенде совпадают с приемлемой погрешностью, то работы по совершенствованию модели прекращаются. Если расхождения велики и нас не устраивают, то необходимо заново снять характеристики и обеспечить необходимую точность, повторив этапы алгоритма.

Заметим, что построение моделей является достаточно сложным делом, поскольку требует сложной и очень дорогой измерительной аппаратуры. Тем не менее, подавляющее большинство фирм-производителей современных микросхем и микропроцессоров (Intel, ATHMEL) и аппаратуры (Samsung, Philips) имеют собственные специализированные лаборатории идентификации параметров IBIS-моделей. Сейчас этот процесс стараются автоматизировать.

Помимо основных, номинальных, значений используются минимальные и максимальные значения параметров модели. Если последние не доступны, то в этом случае моделирование производится только для номинальных значений.

Продолжение здесь.

Искренне Ваш, Главный научный сотрудник

P.S. Прошу подписываться на мой канал! Считаю, что мой опыт и научные достижения должны стать общедоступными. Только оригинальные статьи, собственные наработки!