Представьте, что вы можете увидеть отдельные атомы в материале и даже услышать, как они "звенят". Звучит как научная фантастика? А вот и нет! Команда физиков из Мичиганского государственного университета под руководством Тайлера Кокера разработала новый метод микроскопии, который позволяет делать именно это. Их техника сочетает высокоточную микроскопию с ультрабыстрыми лазерами, что позволяет обнаруживать "дефектные" атомы в полупроводниках с беспрецедентной точностью. Но не спешите думать, что "дефекты" - это что-то плохое. В мире полупроводников эти атомы обычно добавляются намеренно и играют критически важную роль в работе электронных устройств. "Это особенно актуально для компонентов с наноструктурами", - говорит Кокер. Представьте себе компьютерный чип толщиной в один атом - вот о таком будущем полупроводников говорит ученый. Но в чем же суть нового метода? Команда Кокера использовала сканирующий туннельный микроскоп (СТМ), который "ощупывает" поверхность образца атомно-острым нак
Ученые заглянули внутрь атома: новый метод микроскопии открывает тайны наноэлектроники
5 июля 20245 июл 2024
1851
2 мин