Найти в Дзене

"Зависимость порогового тока от температуры лазерного диода"

Аннотация: В данной работе исследуется зависимость порогового тока от температуры лазерного диода. В установке используется диодный лазер с псевдовнешним резонатором, который позволяет сузить ширину линии. В ходе исследований, были получены кривые зависимости мощности излучения (измеренной в относительных единицах) от тока и сами величины порогового тока для четырех температур (13 15,7 18,1 и 25 гр. Цельсия). Обнаружено что с повышением температуры растет и пороговый ток.

Введение

Многие из современных исследований в области атомной физики, и не только, так или иначе, связаны с взаимодействием атомов и излучения. Стандартными источниками излучения в большинстве случаев стали лазеры, легко настраиваемые на требуемые атомные переходы. Для этих целей особо хорошо подходят полупроводниковые лазеры. Так как они обладают рядом свойств, использовать которые наиболее выгодно по сравнения с другими типами лазеров. Диодный лазер вместе с источником питания занимают объем не более 1 см3 и потребляют очень малую мощность. Очень важно, что при правильной эксплуатации диодный лазер оказывается настроенным на заданную длину волны с точностью до нескольких мегагерц сразу же по включении. В настоящей работе исследуется зависимость мощности излучения полупроводникового лазера от тока и температуры.

  1. Теория

Слово "лазер" образовано от начальных букв слов английского выражения "Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation", что означает "усиление света с помощью индуцированного излучения". Физической основой работы лазера служит явление индуцированного излучения. В настоящей работе используется полупроводниковый лазер. Преимуществом диодного лазера является более высокая стабильность мощности, чем у других лазерных источников, что облегчает достижение высокой чувствительности при измерениях поглощения и флуоресценции.

Рис. 1. Схема диодного (инжекционного) полупроводникового лазера.1-алюминевый электрод, 2 - контактный слой p-типа, 3 - подложка, 4 - запирающий слой, 5 и 7 - разделительные слои, 6 - активный слой,: 8 - покровный слой, 9 - контактный слой n-типа. Прямоугольное сечение активной области обусловливает эллиптическую форму диаграммы выходного излучения.
Рис. 1. Схема диодного (инжекционного) полупроводникового лазера.1-алюминевый электрод, 2 - контактный слой p-типа, 3 - подложка, 4 - запирающий слой, 5 и 7 - разделительные слои, 6 - активный слой,: 8 - покровный слой, 9 - контактный слой n-типа. Прямоугольное сечение активной области обусловливает эллиптическую форму диаграммы выходного излучения.

Структура типичного диодного лазера показана на рис.1. Несмотря на очень малые размеры, такие приборы дают на выходе достаточную мощность непрерывного излучения с высоким КПД. Лазерное излучение генерируется при прохождении некоторого тока (называемого инжекционным) через активную область диода между разделительными слоями n- и p-типов. При этом создаются электроны и дырки, при последующей рекомбинации которых испускаются фотоны. Длина волны лазерного излучения определяется шириной запрещенной зоны полупроводникового материала, причем спектральная ширина линии излучения очень велика по сравнению с шириной атомных переходов.

Зависимости выходной мощности типичного диодного лазера от инжекционного тока и температуры приведены на рис. 2. Можно видеть, что лазерная генерация начинается, когда инжекционный ток достигает некоторого порогового значения, которое растет с повышением температуры. При дальнейшем увеличении инжекционного тока выходная мощность быстро возрастает. При данном инжекционном токе выгодная мощность лазера быстро увеличивается с понижением температуры.

Рис. 2. Типичные зависимости выходной мощности P0 диодного лазера от инжекционного тока IF для различных температур. Резкое изменение наклона кривой представляет начало генерации, а соответствующее значение IF называется пороговым.
Рис. 2. Типичные зависимости выходной мощности P0 диодного лазера от инжекционного тока IF для различных температур. Резкое изменение наклона кривой представляет начало генерации, а соответствующее значение IF называется пороговым.

Длина волны излучения диодного лазера определяется в основном шириной запрещенной зоны полупроводникового материала, но зависит также от температуры перехода и плотности инжекционного тока. Температурная зависимость частоты генерации лазера обусловлена тем, что с температурой изменяются как оптическая длина резонатора, так и кривая усиления. К сожалению, эти температурные зависимости сильно различаются. Например, для AlGaAs - лазеров температурный коэффициент оптической длины резонатора составляет примерно +0,06 нм/К, а кривая усиления при повышении температуры на 1К смещается примерно на +0,25 нм. В результате температурная характеристика перестройки лазера в случае идеального прибора представляет собой последовательность наклонных ступенек, разделенных разрывами. Каждая ступенька представляет перестройку в пределах одной продольной моды резонатора, тогда как скачок между ступеньками соответствует перескоку на соседнюю продольную моду (~0,35 нм) вследствие сдвига кривой усиления. Хотя перестройка лазера в целом осуществляется по описанной выше ступенчатой схеме, на практике зачастую возможен скачок сразу через несколько мод резонатора с вероятностью последующего обратного скачка при несколько более высокой температуре, как видно из рис.3.

Рис. 3. Зависимость длины волны P излучения лазера от температуры ТC его корпуса ("кривая перестройки"). Короткие отрезки представляют интервалы перестройки оптической длины резонатора для отдельных продольных мод. При слишком большом смещении пика кривой усиления активной среды лазер перескакивает на другую моду. Этим перескокам отвечают разрывы кривой.
Рис. 3. Зависимость длины волны P излучения лазера от температуры ТC его корпуса ("кривая перестройки"). Короткие отрезки представляют интервалы перестройки оптической длины резонатора для отдельных продольных мод. При слишком большом смещении пика кривой усиления активной среды лазер перескакивает на другую моду. Этим перескокам отвечают разрывы кривой.

Мода, на которую произойдет очередной перескок, обычно зависит от характеристик оптической обратной связи. С повышением температуры могут ухудшаться и другие характеристики лазера.

Длина волны излучения лазера зависит не только от температуры, но и от инжекционного тока. Изменения инжекционного тока приводят к изменению, как температуры диода, так и концентрации носителей, а значит и показателя преломления, а оба эти фактора влияют на длину волны. Во временном масштабе более 1 мкс можно считать, что влияние изменения тока на частоту сводится просто к быстрому изменению температуры, так как вклад концентрации носителей в перестройку по показателю преломления сравнительно мал. Ток влияет на температуру перехода за счет джоулева нагрева, и получающаяся кривая перестройки длины волны в функции тока имеет практически такую же форму, как и в функции температуры. Лишь при временах меньше ~1 мс температура не успевает измениться достаточно сильно, чтобы замаскировать влияние изменения концентрации носителей.

Астренлин В. Т. Новосибирск, 2001 г.