Стартовала программа компенсации затрат по патентованию изобретений в России для участников Московского инновационного кластера (МИК). В состав кластера входят более 30 тысяч организаций из Москвы и 80-ти регионов России.
Программа действует с 1 апреля до 31 мая 2022 года.
Размер гранта составляет 75 тысяч рублей на один патент, при этом:
— заявку можно подать в отношении одного или нескольких патентов
— допускается подача нескольких заявок в отношении разных патентов
— в случае, если участником кластера подано более одной заявки в отношении одного и того же патента, рассматривается заявка, поданная в более раннее время
Требования, предъявляемые к заявителю:
- участник кластера является субъектом малого или среднего
предпринимательства - участник кластера зарегистрирован в качестве юридического лица на территории города Москвы
- отсутствие поданной заявки в отношении одного и того же изобретения
- наличие патента на изобретение, полученного не ранее чем 12 полных календарных месяцев до дня подачи заявки
- участник кластера является единственным обладателем патента или одним из обладателей и им получено согласие от других патентообладателей на подачу заявки
Процесс получения гранта полностью автоматизирован:
- Чтобы обратиться за поддержкой, достаточно получить статус участника МИК и подать заявку в личном кабинете на платформе МИК
- В заявке нужно указать номер полученного патента
- После проверки с компанией подпишут договор и перечислят средства на счет организации
Узнать подробности участия в программе и подать заявку на компенсацию затрат можно на цифровой платформе Московского инновационного кластера по ссылке ниже:
https://i.moscow/measure-supports-card/e2a811f569a64e2fa37f621d1309c7c0
Льготные кредиты, гранты и иные программы выступают действенным инструментом поддержки бизнеса. Создание благоприятных условий для инновационной деятельности и повышения значимости объектов интеллектуальной собственности среди субъектов малого и среднего предпринимательства — приоритетная задача в условиях иностранных санкций.
