Канал компании "ТЕХКОН". Неразрушающий контроль

Детали из полимерных композиционных материалов (ПКМ) широко применяются в авиастроении, а также в других отраслях, где требуется их высокая надежность. Неразрушающий контроль качества данных объектов для выявления дефектов типа нарушений сплошности выполняют чаще всего акустическими методами. Из этих методов наибольшую чувствительность, информативность, производительность, а также выявление дефектов на большой глубине способен обеспечить ультразвуковой контроль (УЗК) [1]. Но УЗК деталей из ПКМ требует решить ряд непростых задач...

ООО «ТЕХКОН» выполнило пуско-наладочные работы по ультразвуковому дефектоскопу OmniScan X3 с преобразователями-фазированными решетками (ПФР). Данный дефектоскоп применяется для неразрушающего ультразвукового контроля (УЗК) сварных швов и основного металла в судостроительной отрасли. Применение возможно как в режиме ручного контроля - РУЗК, так и в режимах механизированного и автоматизированного контроля – МУЗК и АУЗК. Для УЗК больших толщин дефектоскоп имеет конфигурацию каналов 32:128PR и укомплектован ПФР с апертурой 32 и 64 элемента...

Выставка состоится с 22 по 24 октября 2024 года в Международном выставочном центре «Крокус Экспо», павильон 1, зал 3 Московская область, Красногорский район, г. Красногорск, ул. Международная, д. 16, 18, 20. Время работы выставки: 22 октября 2024 10:00 – 18:00 23 октября 2024 10:00 – 18:00 24 октября 2024 10:00 – 16:00 Ссылка на бесплатную регистрацию посетителей: https://www.ndt-russia.ru/ru-RU/visitors/e-ticket.aspx?promo=111111 На нашем стенде Вам будут представлены и продемонстрированы приборы линейки Olympus, EINTIK и др...

Выставка состоится с 12 по 15 марта 2024 года в Екатеринбурге, в МВЦ «Екатеринбург ЭКСПО», Павильон 1, стенд А22. Адрес МВЦ «Екатеринбург ЭКСПО»: ЭКСПО-бульвар, 2 Кроме ультразвуковых приборов на нашем стенде будут представлены материалы для капиллярной и магнитной дефектоскопии фирмы MR Chemie (пенетранты, очистители, проявители и т.д.) А также расходные материалы для рентгенографического контроля...