Найти в Дзене
⚡️ Катоды YPS-M20 для KYKY EM8000 поступление в ближайшее время на склад в Москву
⚡️ Катоды YPS-M20 для KYKY EM8000 поступление в ближайшее время на склад в Москву! ⚡️ Друзья мои кт я вляеьтся счастливым обладателем кукушек! Катоды с полевой эмиссией в народе Шоттки они же FEG ( Firld emission gun) (TFE) YPS-M20 Mini-Module для электронных микроскопов KYKY EM8000. YPS-M20 Mini-Module Thermal Field Emission Emission (TFE) Source - это полная, предварительно выровненная сборка, включающая супрессор, керамический изолятор и экстрактор. Собственная особенность M20 при использовании...
1 неделю назад
Друзья мои растаможились вакуумные клапаны Zeiss FIB‑SEM на складе в Москве
Вчера поступили вакуумные клапаны для электронных микроскопов Zeiss: VAT Spezialität BU General Vacuum, артикул 349 520‑9014‑000 / 920XX‑YY21‑ACT4/0043. На подходе ещё несколько артикулов — под заказ доступны любые позиции...
3 недели назад
Друзья мои в пятницу 6 марта выпущены с таможни в Москве очередная партия катодов Denka TFE 174 C и 174 C SE
Версии для просвечивающих микроскопов Denka TFE 174 C ТE и катодные узлы для литографов ZEISS Raith Voyadger ( Denka modul C2 ) доступны под заказ. (Denka TFE 174 C - rатод с полевой эмиссией для электронных микроскпов Amray, Hitachi, JEOL, ZEISS/LEO, FEI (до 2002 года), PHI и Riber...
1 месяц назад
Заправка интересного жидкометаллического источника ионов галлия (LMIS) HITACHI (P/N 3393
). Друзья, наконец-то гештальт закрыт! В руки наших пытливых инженеров попал галлиевый источник для двухлучевых (FIB-SEM) электронных микроскопов HITACHI. Системы от этого производителя оставались последними «неохваченными» нами в сегменте Dualbeam. После успешной заправки можно будет с уверенностью сказать, что к нашему портфолио (FEI, ZEISS, JEOL) присоединился и Hitachi...
1 месяц назад
Друзья! 24 февраля в Москву прибывает новая партия катодов для электронной микроскопии
В наличии с 24 февраля: Denka TFE 174 C — катод с полевой эмиссией (Schottky emitter). Подходит для электронных микроскопов: Amray, Hitachi, JEOL, ZEISS/LEO, FEI (выпуска до 2002 г.), PHI и Riber. Denka TFE 174 C SE — специализированная версия для сканирующих микроскопов. Доступно под заказ: Denka TFE 174 C TE — версия для просвечивающих электронных микроскопов (TEM)...
2 месяца назад
Если нравится — подпишитесь
Так вы не пропустите новые публикации этого канала