Новый аппаратный автофокус от компании «Активная Фотоника» обеспечивает непрерывную стабилизацию фокуса в режиме реального времени. Система мгновенно отслеживает малейшие смещения образца по отраженному сигналу, компенсируя механические вибрации и тепловой дрейф. Прибор монтируется через стандартный оптический порт и гарантирует стабильную резкость на протяжении многих часов работы. Он полностью автоматизирует рутинную настройку оптики в исследовательских и промышленных комплексах, являясь самостоятельным...
Вам это НАНО
В номинации «Лидер по продажам контрольно-измерительного и аналитического оборудования» победила компания из Зеленограда
В Минске 16 июня состоялась церемония награждения лучших предприятий России и Беларуси, разрабатывающих и производящих современное электронное оборудование. Это произошло во время пленарного заседания отраслевой конференции «Электронное машиностроение – 2026» на тему «Государственная политика в сфере электронного машиностроения. Заместитель министра промышленности Республики Беларусь Алексей Козлов отметил, что перед учеными России и Беларуси сегодня стоят серьезные вызовы: «Требуется постоянное...
Лидирующие инженерные вузы предлагают определять по вовлеченности студентов в решение реальных задач науки и производства
Включить в рейтинг инженерных вузов критерий участия студентов в реальных научных и производственных задач предлагает генеральный директор ООО «Активная Фотоника» Анастасия Яковлева. О разработке таких критериев как раз идет речь в поручении премьер-министра Михаила Мишустина Минобрнауки и Минпромторгу, целью которого названо достижение технологического лидерства. Правительство намерено ежегодно публиковать рейтинг российских инженерных вузов, при составлении которого следует учитывать вклад каждого...
Успешно разработана методика измерения вертикальных стенок
Специалисты «Активной Фотоники» продолжают совершенствовать 3D-AFM методики - это способы сканирования, позволяющие получать топографию и другие характеристики не только на горизонтальных, но и на вертикальных участках поверхности. Проблема вертикальных стенок давняя и трудноразрешимая. Ученые давно научились исследовать профиль горизонтальных наноразмерных поверхностей. И последние два десятка лет лишь подступаются к исследованию вертикальных – ступенек, канавок, траншей, бугорков. Как правило, для этого используются зонды атомно-силового микроскопа различной формы...
Инженерное образование будущего: вузы и бизнес сокращают технологический разрыв
Российская промышленность ставит перед системой образования амбициозную цель: достижение технологического лидерства, что требует кардинальных перемен. Сегодня государство стремится ликвидировать разрыв между академической подготовкой инженеров и реальными запросами рынка. По словам председателя Правительства Михаила Мишустина, ключ к решению — интенсивная практика непосредственно на предприятиях. «Разрыв между инженерным образованием и промышленностью необходимо сократить», — подчеркнул премьер-министр...
Лазерный микроскоп «видит» 0,1 нанометра
В России завершились испытания нового отечественного лазерного микроскопа с разрешением 0,1 нм по вертикали. Его можно использовать как в медицине, например, в онкологии, так и в производстве для контроля качества интегральных микросхем. Прибор способен оценивать качество топологии и фиксирует малейшие дефекты в слоях, неровности дорожек, посторонние включения. Появление лазерного микроскопа с вертикальным разрешением 0,1 нм, безусловно, заслуживает внимания как пример доведенного до практического...
