FIB - фокусированнный ионный пучок, приложение для нанотехнологий(Ч.1)
Введение в FIB По мере экспоненциального роста технического прогресса общества.Всё более важным становится миниатюризация структур, материалов и систем до атомного масштаба(Порядка 1-100 нм),всё это позволили наиболее полноценные методики для полного анализа материалов, как FIB - фокусированные ионные пучки, SEM - сканирующая электронная микроскопия, TEM - просвечивающая электронная микроскопия, AFM - атомно-силовая микроскопия. Среди перечисленных выше, FIB становится всё более часто используемым...