В России завершились испытания нового отечественного лазерного микроскопа с разрешением 0,1 нм по вертикали. Его можно использовать как в медицине, например, в онкологии, так и в производстве для контроля качества интегральных микросхем. Прибор способен оценивать качество топологии и фиксирует малейшие дефекты в слоях, неровности дорожек, посторонние включения. Появление лазерного микроскопа с вертикальным разрешением 0,1 нм, безусловно, заслуживает внимания как пример доведенного до практического применения высокоточного оптического прибора, считает инженер-разработчик компании «Активная Фотоника» Александр Агликов. «Для российской фотоники и приборостроения сам факт появления такого комплекса, прошедшего длительную апробацию в реальной клинической среде, - значимое событие», - отметил он. Он пояснил, что вертикальное разрешение 0,1 нм позволяет «видеть» изменения рельефа или оптического сигнала по вертикали. «Это очень важный параметр, однако он не тождественен латеральному разрешени