i3D представит новейшие 3D-сканеры и экспертизу в области метрологии на выставке «Дефектоскопия / NDT» в Санкт-Петербурге
Санкт-Петербург, 28-29 апреля — Компания i3D, ведущий системный интегратор в области 3D-сканирования и аддитивных технологий, примет участие в специализированной выставке «Дефектоскопия / NDT», которая пройдет в КЦ «ПетроКонгресс» в Санкт-Петербурге.
Мероприятие является одной из ключевых площадок для демонстрации оборудования и технологий неразрушающего контроля.
На стенде А105 компания i3D представит два флагманских решения для промышленной метрологии:
🔹 Ручной 3D-сканер SIMSCAN E — компактное и высокоточное устройство для сканирования объектов сложной геометрии. Идеально подходит для контроля качества деталей, обратного инжиниринга и решения задач в труднодоступных местах.
🔹 Трекерная система Nimble Track E — решение для высокоточных измерений крупногабаритных промышленных объектов. Обеспечивает микронную точность при сканировании без необходимости наклейки маркеров, что критически важно для контроля изделий в авиастроении, машиностроении и энергетике.
Также в рамках выставки можно будет послушать экспертный доклад Дмитрия Екимова, руководителя направления «Метрологическое оборудование» компании i3D. Выступление будет посвящено практическому применению современных 3D-сканеров для решения задач неразрушающего контроля и обратного инжиниринга в российской промышленности.
✅ Посещение выставки бесплатное по промокоду i3D. Для получения билета необходимо зарегистрироваться на официальном сайте выставки.
#Дефектоскопия2026 #NDT #i3D #3Dсканирование #SIMSCANE #NimbleTrack #НеразрушающийКонтроль #Метрология
