Отличился зеленоградский стартап «ИИ-Тех» (Национальный университет МИЭТ) в сотрудничестве с Зеленоградским нанотехнологическим центром (ЗНТЦ). В полупроводниковом производстве контроль качества микросхем производится на множестве этапов. В данном случае речь идёт о системе выявления дефектов кристаллов после резки пластин. На данный момент создан рабочий прототип устройства, включающий в себя микроскоп высокого разрешения, моторизированный столик, сервер для обработки данных и специализированное программное обеспечение. Комплекс уже успешно прошёл испытания на производственной линии ЗНТЦ. «ИИ-Тех» разработал программное обеспечение для интеллектуального визуального контроля внешнего вида кристаллов микросхем. Весь процесс, от загрузки образцов до формирования отчёта, автоматизирован. Так что теперь точность обнаружения микротрещин, царапин, геометрических искажений и прочих производственных дефектов может быть существенно повышена. При разработке системы широко использовались алгори
Разработана российская система контроля качества микросхем.
12 октября 202512 окт 2025
571
1 мин