Микроструктура горных пород, как одно из основных составляющих веществ земной коры, имеет большое значение для понимания геологических процессов, разведки ресурсов и инженерного строительства. Благодаря применению технологии сканирующей электронной микроскопии в экспериментах с горными породами, исследователи могут провести детальное изучение и экспериментальные исследования образцов горных пород, достигая нужных результатов. Настольные СЭМ серии ZEM от компании ZEPTOOLS подходят для анализа образцов гранита, песчаника, гнейса, аргиллита и т.д. Исследователи изучают получаемые изображения поверхности с высоким увеличением и разрешением, а также результаты элементного анализа, для более глубокого понимания характеристик и структуры различных типов горных пород при определенных воздействиях. Результаты исследований дополняют теоретические данные и подтверждают технические данные, обеспечивая надёжность инженерных расчетов и предотвращая геологические катастрофы.
На прикрепленных изображениях показаны различные материалы. Например, микроструктура песчаника в основном зернистая, и характеристики повреждения образца, в основном, проявляются в виде разрушения и фрагментации между зернами песка, а трещины проходят вдоль границы зерен песка. По мере уменьшения размера частиц их компактность увеличивается. Поры между крупнозернистыми частицами хорошо видны, в то время как мелкозернистые частицы песчаника расположены плотно.
Степень и масштаб начального повреждения разных типов горных пород сильно различаются. Неоднородность породы определяет ее деформационные характеристики и нестабильность конечного повреждения при нагружении. Настольная сканирующая электронная микроскопия серии ZEM имеет важное прикладное значение при изучении микроструктуры объектов и обеспечивает теоретическую поддержку и технические данные для проектирования или применения новых материалов.
Подробнее о настольном СЭМ ZEM20: https://melytec-testing.ru/catalog/nastolnye-elektronnye-mikroskopy/zem-20/
#мелитэк #мелитэктестинг #zeptools #Сканирующие_электронные_микроскопы