Найти в Дзене
Метод ЛЭТИ

На страже электронной промышленности: новая разработка ЛЭТИ

Радиофотоника, которую еще называют сверхвысокочастотной оптоэлектроникой, является сравнительно новым научно-техническим направлением, которое исследует способы генерации, передачи и обработки высокочастотных сигналов с помощью оптического излучения. Основная идея радиофотоники состоит в переносе сигнала с несущей радиочастоты на оптическую несущую частоту, обработке полученного оптического сигнала средствами фотоники, последующем детектировании оптического сигнала и окончательном переносе (возвращении) обработанного сигнала в радиодиапазон. В последнее десятилетие изучение радиофотоники активно переходит в практическую плоскость, поскольку ее принципы позволяют создавать более компактные электронные приборы и вычислительные устройства с существенно лучшими характеристиками по сравнению с классической электроникой. Основой компонентной базы для радиофотоники являются так называемые фотонные интегральные схемы (ФИС). Их изготавливают на пластине из полупроводникового материала диаметро

Радиофотоника, которую еще называют сверхвысокочастотной оптоэлектроникой, является сравнительно новым научно-техническим направлением, которое исследует способы генерации, передачи и обработки высокочастотных сигналов с помощью оптического излучения. Основная идея радиофотоники состоит в переносе сигнала с несущей радиочастоты на оптическую несущую частоту, обработке полученного оптического сигнала средствами фотоники, последующем детектировании оптического сигнала и окончательном переносе (возвращении) обработанного сигнала в радиодиапазон. В последнее десятилетие изучение радиофотоники активно переходит в практическую плоскость, поскольку ее принципы позволяют создавать более компактные электронные приборы и вычислительные устройства с существенно лучшими характеристиками по сравнению с классической электроникой.

Основой компонентной базы для радиофотоники являются так называемые фотонные интегральные схемы (ФИС). Их изготавливают на пластине из полупроводникового материала диаметром 3 и более дюймов. Такие пластины могут содержать тысячи различных компонентов, сгруппированных определенным образом в фотонные интегральные устройства (чипы). Полученная пластина в дальнейшем разрезается на отдельные чипы, количество которых может достигать десятков-сотен штук.

Однако в процессе технологического производства ABC могут возникать различные отклонения от заданной топологии и параметров технологических процессов, приводящие к неоднородности интегральных оптических волноводов по толщине, ширине и показателю преломления. Это может приводить к тому, что характеристики произведенной ФИС не будут соответствовать изначально заложенным требованиям. Для контроля параметров ABC используются специальные методы диагностики, большинство из которых сопряжено с повреждением или разрушением контрольных образцов.

Новая разработка СПбГЭТУ «ЛЭТИ»
Новая разработка СПбГЭТУ «ЛЭТИ»
«Мы разработали неразрушающий, быстрый и точный метод контроля качества фотонных интегральных схем с помощью измерения и дальнейшего анализа их передаточных характеристик».
– Доцент кафедры физической электроники и технологии (ФЭТ) СПбГЭТУ «ЛЭТИ» Андрей Александрович Никитин

Для применения нового метода в разные части пластины со схемами добавляются миниатюрные тестовые элементы. Оптическое излучение вводится в них из оптоволокна с поверхности подложки. Это позволяет измерить показатели, характеризующие ряд внутренних оптических параметров, которые описывают работу ФИС. Ключевыми из них являются волновое число оптического излучения, потери и коэффициент связи оптических интегральных волноводов, составляющих фотонную схему. Эти параметры определяются в некотором диапазоне оптических частот работы ФИС. Параметры связаны друг с другом в сложную комбинацию. Анализ полученных зависимостей сигнализирует о наличии или отсутствии дефектов ФИС, в частности, искажения геометрии функциональных элементов. Чтобы их «разделить» на отдельные показатели ученые ЛЭТИ разработали специальную математическую модель.

В качестве демонстрации работоспособности метода ученые определили параметры ФИС, изготовленной по технологии кремний-на-изоляторе (КНИ). Полученные данные были использованы для расчета передаточной характеристики тестового устройства, которая с высокой степенью точности совпала с экспериментальной. Результаты исследования опубликованы в научном журнале Microwave and Optical Technology Letters.

«Поскольку в России отрасль производства фотонных интегральных схем начинает бурно развиваться, то предложенный нами метод может найти широкое применение при отработке технологических процессов, а также для оперативного контроля качества продукции при массовом производстве на предприятиях микроэлектронной и оптоэлектронной промышленности».
Руководитель лаборатории магноники и радиофотоники, профессор кафедры ФЭТ СПбГЭТУ «ЛЭТИ» Алексей Борисович Устинов

Исследование поддержано грантом Минобрнауки РФ. Оно является частью деятельностью сотрудников ЛЭТИ в сфере разработки электроники на новых физических принципах, которые проводятся на базе Лаборатории магноники и радиофотоники им. Б.А. Калиникоса при кафедре ФЭТ (создана в 2021 году в рамках мегагранта Правительства Российской Федерации). Например, ранее ученые ЛЭТИ разработали источник СВЧ-сигналов, перспективный для радиофотоники. Проект соответствует научно-исследовательской политике СПбГЭТУ «ЛЭТИ» в рамках программы развития «Приоритет 2030».

#Наука #НаукаЛЭТИ