Российские ученые совершили значительный прорыв в сфере контроля качества электронной продукции, представив инновационное решение на базе искусственного интеллекта. Разработанная в Томском государственном университете система показывает впечатляющие результаты, превосходя зарубежные аналоги по ключевым параметрам эффективности. Уникальная разработка ТГУ использует передовые алгоритмы для анализа трехмерных рентгеновских снимков электронной аппаратуры. Математическая модель способна выявлять дефекты в различных компонентах с высокой точностью и скоростью. Особенно важно, что система может обнаруживать как внешние, так и внутренние дефекты в печатных платах, микросхемах, разъемах и резисторах. Для обучения искусственного интеллекта была использована обширная база данных, включающая 11,5 тысяч изображений, что позволило создать универсальную систему распознавания дефектов различной природы. Важным преимуществом является способность нейросети работать с изображениями различной размерности
Сделано с умом: искусственный интеллект нового поколения для электронной промышленности
11 марта 202511 мар 2025
2
2 мин