Н е о бхо д и м о т а к ж е п р о в е р я т ь устойчивость к лавинному пробою, которая оценивается методом разблокированного индуктивного переключения (unclamped inductive switching, UIS). На MOSFET подается импульс напряжения, когда он находится в закрытом состоянии, что заставляет весь ток лавинообразно течь на периферию кристалла, поскольку его канал не открыт. Это испытание отличается от теста на стойкость при коротком замыкании, когда MOSFET находится в открытом состоянии и ток более равномерно распределяется по всей активной области устройства. чтобы точно имитировать реальные условия эксплуатации, на SiC MOSFET подаются повторные импульсы UIS; параметрическая стабильность и целостность оксида сравниваются до и после 100 тыс. повторяющихся импульсов при двух третях номинальн напряжение VGS гасит выбросы VDS и смягчает колебания всех трех сигналов. Прилагаемая программа помогает точно настраивать драйверы затвора на всех этапах проектирования одним щелчком
Дополнительная коммутация в схеме защиты от короткого замыкания позволяет уменьшить Rg
30 ноября 202130 ноя 2021
1
1 мин