Недавно я уже писал о завершении НИРа по теме «Разработка установки безмасочной рентгеновской нанолитографии на основе МЭМС (микроэлектромеханической системы) динамической маски для формирования наноструктур с размерами от 13 нм и ниже на базе синхротронного и/или плазменного источника», шифр «Рентген-Литограф». Сегодня я коснусь этой темы чуть подробнее. Но сначала немного о проблемах фотошаблонов для обычных EUV-литографов, от чего пытались уйти в бесфотошаблонных. Фотошаблон для EUV-литографов представляет собой отражающую многослойную структуру (как у зеркал), и существуют большие сложности, чтобы его сделать качественно. Если на поверхности такого фотошаблона дефекты более-менее хорошо контролируются, то в глубине, на внутренних слоях, контроль дефектов представляет собой нетривиальную задачу. Поэтому создание такой маски крайне дорого. Кроме того, проблемой является затенение внутренних слоёв фотошаблона от излучения высокими поглощающими краями, особенно на большой апертуре опти
Теперь подробности про российский «безмасочный» EUV-литограф 28 нм от ИПФ РАН
4 января 20234 янв 2023
11,2 тыс
3 мин