Найти тему
Войти
1,0×
Анализ тепловых эффектов, возникающих при испытании транзисторов // ДЕЛАЕТ И ПОКАЗЫВАЕТ НИИЭТ
78 просмотров · 11 месяцев назад
00:00
/
12:11
АО НИИЭТ
1302 подписчиков
Подписаться
Делает и показывает НИИЭТ
Подборка ·
АО НИИЭТ
· 21 из
27
Далее: Основные типы дефектов при анализе зарекламированных изделий. ЧАСТЬ 1 // ДЕЛАЕТ И ПОКАЗЫВАЕТ НИИЭТ
Делает и показывает НИИЭТ
· 21 из
27
553330357.1343.1741089394754.95868