Анализ дефектов помог повысить эффективность полупроводника в 8 раз

Научный коллектив из Политехнического института Ренсселера (ПИР) выяснили, что полупроводниковый материал больше подвержен дефектам, чем считалось ранее и внимание к ним может кратно повысить его производительность.ИА Регнум