ИИ поможет эффективнее анализировать изображения микроскопа

Прорыв в атомно-силовой микроскопии: ИИ увеличивает разрешение за пределы размера зонда Метод атомно-силовой микроскопии (АСМ) широко применяется для трехмерного картирования поверхностей различных материалов.Мой Брянск
Однако точность АСМ ограничена размерами зонда, используемого для сканирования.Мой Брянск
Недавно разработанный алгоритм на основе искусственного интеллекта, созданный учеными из Университета Иллинойс в Урбана-Шампейн, позволяет преодолеть это ограничение, обеспечивая изучение структур меньше размера зонда, пишет Центральная Служба Новостей.Мой Брянск
В то время как большинство методов микроскопии ограничиваются созданием лишь двумерных снимков, АСМ расширяет возможности, предоставляя детализированные трехмерные топографические карты.Мой Брянск