Первый в истории «дефектный микроскоп», с помощью которого можно наблюдать перемещение дефектов в материалах, разработали ученые из Ливерморской национальной лаборатории Лоуренса, 14 июля сообщает журнал Science Advances.ИА Красная Весна
Ученые использовали рентгеновскую микроскопию темного поля с временным разрешением (DFXM), чтобы непосредственно визуализировать, как дислокации перемещаются и взаимодействуют на глубине сотен микрометров внутри объемного алюминия.ИА Красная Весна
На видеосъемках было показано, что термически активированное движение и взаимодействия дислокаций разрушают структуру металла при температуре, составляющей 99 процентов от температуры плавления.ИА Красная Весна
Она предлагает уникальный способ просмотра «промежуточных масштабов», которые связывают микроскопические дефекты с объемными свойствами материалов.ИА Красная Весна