Ученые Научно-технологического центра уникального приборостроения (НТЦ УП) РАН и Института ядерной физики имени Г. И. Будкера Сибирского отделения РАН представили новую технику измерения оптической толщины тонких диэлектрических покрытий.ТАСС Наука
Эксперименты показали, что использование некогеретного монохроматического света создает меньший шум в резонансных кривых по сравнению с лазерным, что также позволяет повысить точность измерения пленок.ТАСС Наука
По словам авторов, предложенный метод даст возможность исследовать даже очень тонкие пленки, что поможет изготавливать более сложные многослойные покрытия и в перспективе производить пленки с лучшими свойствами.ТАСС Наука
Исследование выполнено при финансовой поддержке Совета по грантам президента Российской Федерации для государственной поддержки молодых российских ученых.НИА-Федерация