ИИ поможет эффективнее анализировать изображения микроскопа

Прорыв в атомно-силовой микроскопии: ИИ увеличивает разрешение за пределы размера зонда Метод атомно-силовой микроскопии (АСМ) широко применяется для трехмерного картирования поверхностей различных материалов.Мой Брянск
Эта новость в СМИ