Электронный томограф разглядел микрокристаллы со всех сторон

Швейцарские физики предложили два метода, исправляющих основной недостаток электронной томографии — невозможность рассмотреть кристаллы со всех сторон из-за непрозрачных подложек, держащих образцы.Новости нанотехнологий и нанобизнеса