Качество пассивации поверхности диэлектриков приобретает все большее значение, особенно в области фотовольтаики. Из-за новых концепций в области солнечных элементов, таких как PERC или IBC, и растущей потребности в солнечных элементах с высокой эффективностью необходим инструмент для быстрой характеризации пассивирующих слоев. Измеритель модели MDPmap с опцией BiasMDP позволяет удовлетворить данную потребность. Поверхностные пассивирующие диэлектрические слои создают химическую и полевую пассивацию...

Предыдущий метод рассмотрен здесь. Прежде чем рассмотреть метод, предлагаемый авторами статьи, оценим индуктивность проводов, используемых при измерениях на стенде. Расчет индуктивности прямолинейного провода длиной ℓ и радиусом поперечного сечения r можно провести по упрощённой [1] формуле (1) (здесь μ0 — магнитная постоянная, μ0 = 4π*10-7 Гн/м): Если в формуле (1) положить ℓ = 1 м, r = 0,12 мм, то получим LП = 1,8 мкГн. Поскольку эта индуктивность весьма велика, то её нельзя не учитывать. Схемы...