Микроскопия в материаловедении представляет собой обширную область, охватывающую разнообразные техники и подходы, которые позволяют исследовать материалы на уровне, недоступном для невооруженного глаза. Это особенно важно для понимания механических, электрических и термических свойств. Методы, такие как сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) и трансмиссионная электронная микроскопия (ТЭМ), обеспечивают возможность визуализации структуры материалов с высоким разрешением. Это позволяет выявлять...

Спектральный анализ представляет собой метод исследования, который позволяет определить химический состав и физические свойства строительных материалов путем анализа их спектров, получаемых при взаимодействии с электромагнитным излучением. Процесс включает измерение интенсивности света, отраженного или пропущенного через образец, что позволяет выявить уникальные характеристики материалов, такие как минералогический состав, наличие загрязняющих веществ и другие важные параметры, влияющие на долговечность и надежность строительных конструкций...