1 месяц назад
Спектроскопические методы идентификации материалов основные принципы
Спектроскопия основывается на взаимодействии электромагнитного излучения с веществом, что позволяет получать информацию о его структурных и химических характеристиках. Основным принципом является анализ спектров, получаемых в результате рассеяния, поглощения или эмиссии света. Каждая молекула или атом имеет уникальный набор энергетических уровней, что приводит к специфическим спектральным линиям. Важнейшими аспектами являются выбор длины волны, чувствительность к концентрации вещества и способность различать изотопы...
Обзор метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
Принцип работы, применение, преимущества и достоинства метода РФЭС. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС, X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) — один из наиболее информативных методов поверхностного анализа материалов. Он позволяет определять химический состав, электронные состояния атомов и структуру химических связей с высокой точностью. Метод основан на фотоэлектрическом эффекте: под действием рентгеновского излучения атомы материала испускают фотоэлектроны, кинетическая энергия которых анализируется спектрометром...