Микроскопия в материаловедении представляет собой обширную область, охватывающую разнообразные техники и подходы, которые позволяют исследовать материалы на уровне, недоступном для невооруженного глаза. Это особенно важно для понимания механических, электрических и термических свойств. Методы, такие как сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) и трансмиссионная электронная микроскопия (ТЭМ), обеспечивают возможность визуализации структуры материалов с высоким разрешением. Это позволяет выявлять...