405 подписчиков
Федеральный исследовательский центр химической физики широко использует для ряда исследований установку времяпролетной масс-спектрометрии вторичных ионов. Это чувствительный аналитический метод для исследования химического состава поверхности путем масс-спектральной 2D и 3D визуализации химического состава полимеров, сплавов, композитных материалов, природных минералов и биологических образцов.
Установка TOF SIMS 5 позволяет проводить экспресс-анализ химического состава при нанометровом (до 80 нм) пространственном разрешении на исследуемой поверхности. Он обеспечивает разрешение по глубине анализа до 10-20 нм. При помощи аргоновой пушки можно совершать травление образца и исследовать его состав не только на поверхности, но и в глубине образца. Совокупность этих характеристик помогают определять состав и распределение химических компонент в образце и получать 3D изображение распределения химического состава объекта.
Таким образом, этот метод можно использовать как своеобразный масс-спектральный микроскоп для получения 2D и 3D ионных изображений и анализа химических, биологических систем и природных материалов.
Около минуты
23 сентября 2022