Представлен новый тип микроскопа, который позволяет проводить трёхмерные наблюдения за быстрыми процессами с высоким разрешением. Устройство значительно увеличивает глубину резкости по сравнению с обычными микроскопами, сохраняя при этом высокое пространственное и временное разрешение. Это даёт возможность наблюдать за процессами, которые ранее были недоступны для изучения. arXiv: 2605.12884 Обзоры | Физика
Ультрафаст вайдфилд 3D топография с экстендед дефс оф филд
Представлен новый тип микроскопа, который позволяет проводить трёхмерные наблюдения за быстрыми процессами с высоким разрешением. Устройство значительно увеличивает глубину резкости по сравнению с обычными микроскопами, сохраняя при этом высокое пространственное и временное разрешение. Это даёт возможность наблюдать за процессами, которые ранее были недоступны для изучения.
arXiv: 2605.12884
