В статье описывается, как с помощью специальных методов исследования удалось преодолеть ограничения, связанные с дифракцией света, и получить детальные данные о работе полупроводниковых нанопроволочных лазеров. Это позволит лучше понять влияние неоднородностей материалов на работу лазеров и улучшить их характеристики. Также удалось количественно измерить количество стимулированных фотонов в полости лазера и визуализировать распределение ближнего поля излучения. arXiv: 2603.23237 Обзоры | Физика
Ультрабыстрое изображение ближнего поля работающего нанолазера с помощью свободных электронов
В статье описывается, как с помощью специальных методов исследования удалось преодолеть ограничения, связанные с дифракцией света, и получить детальные данные о работе полупроводниковых нанопроволочных лазеров. Это позволит лучше понять влияние неоднородностей материалов на работу лазеров и улучшить их характеристики. Также удалось количественно измерить количество стимулированных фотонов в полости лазера и визуализировать распределение ближнего поля излучения.
arXiv: 2603.23237
