🔬 Прорыв в нанотехнологиях
Исследователи из Корнеллского университета, совместно с TSMC и ASM, впервые смогли визуализировать атомные дефекты внутри транзисторов современных компьютерных чипов. Это стало возможным благодаря применению просвечивающей электронной микроскопии нового поколения с матричным детектором EMPAD.
🧪 Что удалось увидеть
- Трёхмерные изображения атомной структуры внутри каналов транзисторов
- Неровности на границе материалов, получившие название «мышиные укусы»
- Дефекты в каналах шириной всего 15–18 атомов
Такие дефекты ранее были недоступны для прямого наблюдения и могли лишь моделироваться теоретически.
⚙️ Технология EMPAD
EMPAD — это электронный микроскоп с матричным детектором, разработанный в Корнелле:
- Регистрирует рассеяние электронов с рекордным разрешением
- Позволяет восстанавливать положение отдельных атомов
- Работает с многослойными структурами: кремний, диоксид кремния, оксид гафния
💡 Почему это важно
- Повышение надёжности и производительности чипов
- Оптимизация архитектуры транзисторов
- Улучшение контроля качества при производстве
Компьютерные чипы используются в:
- Смартфонах
- Автомобилях
- Центрах обработки данных
- Квантовых и ИИ‑системах
🧭 Влияние на индустрию
Это открытие может изменить подход к:
- Проектированию микросхем
- Диагностике производственных дефектов
- Разработке новых материалов для электроники
📚 Источник и публикация
Результаты исследования были опубликованы 23 февраля 2026 года в журнале Nature Communications. Ведущим автором выступил аспирант Шейк Карапетян.
🧠 Заключение
Впервые учёные смогли заглянуть внутрь транзисторов на атомном уровне и увидеть то, что раньше было скрыто. Это открывает новые горизонты для развития микроэлектроники и может стать основой для следующего поколения чипов.