Добавить в корзинуПозвонить
Найти в Дзене
МИКРОТЕХПРО

Заправка интересного жидкометаллического источника ионов галлия (LMIS) HITACHI (P/N 3393

). Друзья, наконец-то гештальт закрыт! В руки наших пытливых инженеров попал галлиевый источник для двухлучевых (FIB-SEM) электронных микроскопов HITACHI. Системы от этого производителя оставались последними «неохваченными» нами в сегменте Dualbeam. После успешной заправки можно будет с уверенностью сказать, что к нашему портфолио (FEI, ZEISS, JEOL) присоединился и Hitachi. Результаты оценки: Состояние источника для повторного использования оценивается как удовлетворительное, целостность конструкции не нарушена. Галлиевая пленка утрачена вследствие длительного пребывания вне среды инертного газа. Источник направлен на очистку и дефектовку (проверку проволоки на наличие трещин). #LMIS #LMISHITACHI #галлиевыйисточник #FIBSEM #микроскопия

Заправка интересного жидкометаллического источника ионов галлия (LMIS) HITACHI (P/N 3393).

Друзья, наконец-то гештальт закрыт! В руки наших пытливых инженеров попал галлиевый источник для двухлучевых (FIB-SEM) электронных микроскопов HITACHI. Системы от этого производителя оставались последними «неохваченными» нами в сегменте Dualbeam. После успешной заправки можно будет с уверенностью сказать, что к нашему портфолио (FEI, ZEISS, JEOL) присоединился и Hitachi.

Результаты оценки:

Состояние источника для повторного использования оценивается как удовлетворительное, целостность конструкции не нарушена. Галлиевая пленка утрачена вследствие длительного пребывания вне среды инертного газа. Источник направлен на очистку и дефектовку (проверку проволоки на наличие трещин).

#LMIS #LMISHITACHI #галлиевыйисточник #FIBSEM #микроскопия

-2
-3
-4
-5
-6