Российские ученые совместно с коллегами из Китая провели подробный фотогеологический анализ поверхности частично затененных днищ трех околополярных кратеров Луны — Шомбергер A, Рождественский K и Лавлейс. Их диаметры составляют соответственно 31 км, 42 км и 54 км. Исследование опубликовано в журнале Solar System Research. В работе использованы снимки камер ShadowCam и LROC NAC, а также данные лазерного альтиметра LOLA, что позволило получить детальные сведения о морфологии днищ кратеров. Анализ показал, что на всех трех участках поверхности преобладают вторичные кратеры диаметром от десятков до сотен метров, образовавшиеся в результате метеоритных ударов после основного. Это согласуется с более широкими научными наблюдениями: доминирование мелких ударных форм на поверхности кратеров — типичное явление в лунной геологии. Вопреки пословице, на Луне в одну воронку может попасть бесконечно много космических «снарядов». Кроме того, на внутренних склонах этих кратеров обнаружена волнистая те