В статье представлен метод магнитооптической Kerr-микроскопии с увеличенной глубиной резкости. Он позволяет получать чёткие изображения магнитных доменов на неплоских образцах за счёт сканирования через фокус и сшивки изображений. Это делает метод полезным для изучения магнитных структур на изогнутых или наклонных поверхностях. arXiv: 2601.08059 Обзоры | Физика
Расширенная глубина резкости магнитооптической микроскопии Керра для применений в трёхмерном наномагнетизме
В статье представлен метод магнитооптической Kerr-микроскопии с увеличенной глубиной резкости. Он позволяет получать чёткие изображения магнитных доменов на неплоских образцах за счёт сканирования через фокус и сшивки изображений. Это делает метод полезным для изучения магнитных структур на изогнутых или наклонных поверхностях.
arXiv: 2601.08059
