Спектроскопическая эллипсометрия — это мощный неразрушающий метод исследования оптических свойств двумерных материалов. В статье представлен обзор методов эллипсометрии, применяемых для анализа таких материалов, как графен, дихалькогениды переходных металлов и другие двумерные системы. Обсуждаются экспериментальные конфигурации, стратегии оптического моделирования и проблемы, связанные с анизотропией и влиянием подложки. arXiv: 2512.14294 Обзоры | Физика
Спектроскопическая эллипсометрия для двумерных материалов: методы, оптическое моделирование и новые явления
Спектроскопическая эллипсометрия — это мощный неразрушающий метод исследования оптических свойств двумерных материалов. В статье представлен обзор методов эллипсометрии, применяемых для анализа таких материалов, как графен, дихалькогениды переходных металлов и другие двумерные системы. Обсуждаются экспериментальные конфигурации, стратегии оптического моделирования и проблемы, связанные с анизотропией и влиянием подложки.
arXiv: 2512.14294
