При поддержке университетской Стартап-студии МИЭТ в Зеленограде разработано отечественное решение для автоматического контроля качества микросхем на базе искусственного интеллекта. Система с точностью до 96% выявляет дефекты кристаллов после резки пластин, превосходя по точности традиционный визуальный контроль. Разработка стала результатом совместной работы студенческого стартапа «ИИ-Тех», в команду которого вошел миэтовец, и Зеленоградского нанотехнологического центра (АО «ЗНТЦ», входит в ГК «Роснано»). Проект
реализуется в рамках федеральной инициативы «Платформа университетского технологического предпринимательства» Минобрнауки России с привлечением государственного финансирования через Фонд инфраструктурных и образовательных программ. Программная часть комплекса построена на алгоритмах компьютерного зрения с использованием библиотек OpenCV и PyTorch. Архитектура включает нейросеть, обученную на обширной базе изображений дефектов. «Решение задает новые стандарты качества в отечес