Чем сложнее микросхема, тем сложнее найти в ней ошибку. Массовое производство требует гарантий, что каждая микросхема из миллионов будет работать идеально. Обычными методами это проверить невозможно – слишком долго, дорого и неэффективно. В чем решение? Ответ – проектирование с учетом тестирования (Design For Testability или DFT). Встраивание в микросхему специальных тестовых структур позволяет быстро проверять качество микросхем и снижает их стоимость для конечного потребителя. DFT – это не просто этап разработки, это философия проектирования. В рамках обучения каждый студент сможет: Авторы и ведущие курса – эксперты компании YADRO. Основой программы курса «Испытания и тестовые структуры систем-на-кристалле» является многолетний практический опыт инженеров ведущей российской технологической компании, которым они готовы поделиться со слушателями
программы. Курс полезен всем, кто планирует строить карьеру в области разработки и производства СнК, особенно для направлений DFT-разработки