Спин сжатие в электронной микроскопии В статье показано, что спин-сжатие — форма квантовой метрологии, основанная на запутанности, — может улучшить соотношение сигнал/шум в электронной микроскопии. Это достигается за счёт генерации необходимых запутанных состояний через электрон-электронные кулоновские взаимодействия и квантовые неразрушающие измерения. Полученные результаты связывают квантовую метрологию и электронную интерферометрию, открывая путь к улучшению электронной микроскопии. arXiv: 2507.09243 Обзоры | Квантовая физика
Спин сжатие в электронной микроскопии
В статье показано, что спин-сжатие — форма квантовой метрологии, основанная на запутанности, — может улучшить соотношение сигнал/шум в электронной микроскопии. Это достигается за счёт генерации необходимых запутанных состояний через электрон-электронные кулоновские взаимодействия и квантовые неразрушающие измерения. Полученные результаты связывают квантовую метрологию и электронную интерферометрию, открывая путь к улучшению электронной микроскопии.
arXiv: 2507.09243
