Оптическое вычисление дивергенции векторного поля с использованием металлодиэлектрического многослойного материала В статье описывается теоретический метод вычисления дивергенции двумерного векторного поля с помощью отражённого света, падающего под углом на многослойную структуру. Показано, что такая структура позволяет также вычислять градиент и выполнять изотропное дифференцирование. В качестве примера предложена многослойная структура из металла и диэлектрика, которая с высокой точностью вычисляет оператор дивергенции. arXiv: 2505.21023 Обзоры | Физика
Оптическое вычисление дивергенции векторного поля с использованием металлодиэлектрического многослойного материала
В статье описывается теоретический метод вычисления дивергенции двумерного векторного поля с помощью отражённого света, падающего под углом на многослойную структуру. Показано, что такая структура позволяет также вычислять градиент и выполнять изотропное дифференцирование. В качестве примера предложена многослойная структура из металла и диэлектрика, которая с высокой точностью вычисляет оператор дивергенции.
arXiv: 2505.21023
