60,5K подписчиков

Характеристики первого российского литографа на 350 нм, проходящего испытания в Зеленограде

5,9K прочитали

На днях прошла информация о том, что российский литограф для техпроцесса 350 нм уже создан в железе и проходит испытания в составе технологической линейки в Зеленограде.

Кстати, оборудование с похожими по разрешению характеристиками уже имеется в Беларуси аж с 2017 года. Это автоматическая установка совмещения и экспонирования ЭМ-5784:

Автоматическая установка совмещения и экспонирования ЭМ-5784 (Беларусь, 2017 год) с разрешением (минимальным размером элемента) 350 нм.
Автоматическая установка совмещения и экспонирования ЭМ-5784 (Беларусь, 2017 год) с разрешением (минимальным размером элемента) 350 нм.

Правда, у неё существенно меньше (более, чем на полтора порядка) площадь рабочего поля — 3,2х3,2 мм против 22х22 мм у российского и на ступень меньше максимальный диаметр пластин — 150 мм против 200 мм.

Кстати, в 2021 году эта установка была доработана и по площади рабочего поля и по диаметру пластин, получила название ЭМ-5884, и теперь фактически имеет целевые параметры будущего российского литографа. Так что, возможно, стоимость 1 млрд — это не столько стоимость разработки, сколько стоимость выкупа у белорусов всех технологий и лицензий на этот литограф для создания своего варианта? :-)

Поскольку известно, что разработка российского литографа ведётся с привлечением специалистов Планара, то, скорее всего, за основу взят именно ЭМ-5884. Ну, хоть не с нуля начали, уже хорошо.

Замечу, что СССР закончил совершенствование своих литографов на уровне 500 нм. И делали их именно на Планаре! На территории России литографы такого уровня при СССР не производились.

Немного смущает то, что в качестве источника излучения в российском литографе значится длина волны 365 нм (это длина волны ртутной лампы), в то время, как в белорусском это 354,7 нм (твёрдотельный лазер, т.е. существенно меньшая потребляемая мощность, повышенная выходная мощность, высокая долговечность и узкий спектр). В то же время мне неизвестно, каков на сегодняшний день процент иностранных узлов в белорусском литографе. Возможно, лазер иностранный, и разрабатывать его с нуля под уже столь зрелый техпроцесс не имеет большого смысла.

В указанной по ссылке выше статье я упоминал сроки выполнения различных этапов работ. В этой же статье я хочу сфокусироваться на общем списке проводимых работ и поподробнее остановиться на технических характеристиках создаваемой установки. Близким к теме людям они будут довольно интересны. Кое что я даже выделил жирным шрифтом.

Более подробно обо всём этом можно прочитать в конкурсной документации по ссылке, приведённой ниже.

Проводимые работы

Согласно ОКР, АО «Зеленоградский нанотехнологический центр» (ЗНТЦ) в сотрудничестве с ОАО «Планар» проводит следующие работы по литографу:

Разработка конструкторской документации с литерой «О» и изготовление опытного образца установки совмещения и проекционного экспонирования (установки далее - Установки) полупроводниковых пластин, разработка и постановка базовых технологических процессов (далее — БТП) проекционного переноса изображений на пластину (Step&Repeat) с размером минимального конструкционного элемента 350 нм.

Установка предназначена для проекционного переноса изображения фотошаблона на полупроводниковую пластину и мультипликации его на пластине при изготовлении СБИС с проектной топологической нормой 0,35 мкм (350 нм).

В ходе выполнения работы должны быть выполнены следующие работы:

  • разработаны составные части эскизных проектов установки;
  • разработаны составные части технических проектов;
  • изготовлены макеты ключевых узлов установки;
  • разработана конструкторская документация (КД), технологическая документация (ТД), проектная документация (ПД) и эксплуатационная документация (ЭД) на установки;
  • изготовлен опытный образец установки;
  • сформированы технические требования (далее — ТТ) к БТП на основе критического анализа развития технологии современных ЭКБ;
  • исследованы и отработаны БТП с использованием разработанных и изготовленных тестовых структур на пластинах диаметром 150 мм на опытном образце установки;
  • совместно с Заказчиком проведены предварительные испытания (ПрИ) опытных образцов установки;
  • совместно с Заказчиком проведены приемочные испытания (ПИ) опытных образцов установки, по результатам ПИ КД, ТД присвоены литеры «О»;
  • получено заключение предприятия-потребителя по уровню параметров и применяемости разработанных установки;
  • определено предприятие-изготовитель установки.

Технические требования к изделию

В состав установки должны входить следующие составные части:

  • а) устройство оптико-механическое (ОМУ) — 2000 х 2600 х 2500 мм;
  • б) комплекс управляющий (КУ) — 2000 х 800 х 1600 мм;
  • в) программное обеспечение;
  • г) комплект запасных частей и принадлежностей.

ОМУ должно содержать:

  • а) объектив;
  • б) систему освещения;
  • в) систему фокусировки и покадрового выравнивания;
  • г) систему совмещения;
  • д) координатную систему;
  • е) систему загрузки пластин;
  • ж) систему загрузки фотошаблонов.

КУ должен содержать:

  • а) стойку управления;
  • б) вычислительный комплекс, предназначенный для управления установкой и обработки информации, на базе персонального компьютера, имеющей выход в локальную сеть Ethernet.

Ориентировочная масса установки — 3500 кг.

Установка должна производить индивидуальную обработку пластин с автоматической системой загрузки и выгрузки пластин из подающей кассеты в приемную или из приёмной обратно в подающую.

Установка должна быть оборудована не менее, чем двумя кассетами для загрузки и выгрузки пластин соответственно диаметром 150 или 200 мм. Вместимость кассет — 25 пластин.

Основные технические требования к параметрам составных частей и систем установки

Объектив

  • Рабочая длина волны, нм — 365.
  • Масштаб изображения — 1:5 (0,2).
  • Диапазон изменения масштаба — ±1х10^-6.
  • Погрешность изменения масштаба не более — ±0,5х10^-6.
  • Числовая апертура — 0,45 - 0,6.
  • Размеры поля изображения, X x Y, мм — 22 х 22.
  • Глубина резкости, мкм, не менее для L/S — 0,6.
  • Дисторсия (по всему полю изображения), yм, не более — ±0,45.
  • Размер минимального элемента по полю изображения периодической структуры в однослойном резисте толщиной 0,98-1,1 мкм с допуском на размер ±10%, мкм — 0,35.

Система освещения

  • Максимальная энергетическая освещенность в плоскости экспонирования, мВт/см2, не менее (круговое освещение) — 1100
  • Неравномерность освещенности поля изображения, %, не более (при круговом освещении) — ±1,5
  • Нестабильность дозы экспонирования, %, не более — ±1,0

Система фокусировки и покадрового выравнивания

  • Система должна обеспечить работу при максимально допустимом изменении толщины пластин от партии к партии, мкм, не более — 50.
  • Диапазон фокусировки, мкм — 0 - 100.
  • Невоспроизводимость фокусировки, мкм, не более — ±0,15.

Система совмещения

  • Метки совмещения — дифракционно-фазовые.
  • Случайная составляющая погрешности совмещения (3σ), нм, не более — 90

Система загрузки пластин

  • Диаметр обрабатываемых пластин, мм — 150 или 200.
  • Время переналадки, ч, не более — 12.
  • Механизмы загрузки и разгрузки пластин — SMIF-контейнеры.
  • Манипулирование пластинами — «рукой» миниробота с вакуумной присоской с обратной стороны пластины.
  • Геометрические характеристики кремниевых пластин должны соответствовать требованиям стандартов SEMI, в т.ч. по параметру локальной неплоскостности (методика SBIR), (на поле 22 х 22 мм), мкм, не более — 0,1.

Система загрузки фотошаблонов

  • Размер фотошаблонов, мм — 152 х 152.
  • Толщина стекла фотошаблона, мм — 6,3 ±0,2
  • Высота рамки пелликлов на фотошаблонах, мм, не более — 8,0
  • Загрузка подготовленных фотошаблонов с пелликлами — из переносных индивидуальных контейнеров.
  • Загрузка фотошаблонов в ОМУ — из магазина фотошаблонов на 12 позиций
  • Время смены и позиционирования фотошаблона, с, не более — 50
  • Шторки диафрагмы должны обеспечивать положение границ кадра в плоскости фотошаблона с погрешностью, мкм, не более — ±50

Координатный стол

  • Рабочий ход, мм, Х — 250, Y — 210.
  • Точность позиционирования, нм — ±5
  • Масса каретки, кг — 20
  • Тип двигателей — линейный

Требования надёжности:

  • наработка на отказ — не менее 500 часов;
  • время восстановления — не более 2 часов;
  • срок сохраняемости — не менее 1 года;
  • срок службы — не менее 5 лет.

Заключение

Итак, опытный образец литографа уже сделан в железе, проходит испытания, и к концу этого года можно будет запускать его производство в серию. Объём производства, очевидно, будет зависеть от потребностей фабрик, а они определяются спросом на СБИС с техпроцессом 350 нм, который, надо заметить, довольно велик. Ведь помимо топовых микропроцессоров для компьютеров и смартфонов существует огромное количество микросхем для обычной радиоэлектроники, как пример, автомобильной (различные контроллеры работы двигателя и других систем).

Если серийное производство литографов начнётся в 2025-м году, то производственный линии выпустят первые чипы, надо полагать, в 2026-м году. Так что ждём и надеемся :-)

На сегодня всё. Ставьте нравлики, подписывайтесь на канал и оставляйте свои соображения в комментариях. Удачи! :-)