Группа ученых из Университета Барселоны и компании Sensofar Tech представили новую технологию получения трехмерных изображений образцов исследований быстро, точно и без вреда для объекта. Работа была опубликована в журнале Nature Communications.
Новая система способна характеризовать трехмерную топографию объекта с высокой скоростью и пространственным разрешением, превосходящим производительность существующих технологических систем.
Этот метод является новым шагом в области оптической профилометрии, техники, широко применяемой в контроле качества и проверке деталей в различных отраслях бизнеса, от компонентов, созданных с помощью 3D-печати, до коронарных протезов и обнаружения дефектов поверхности.
Оптическая профилометрия — это метод измерения трехмерного профиля объектов с помощью света. Обычно профиль микрометрического объекта измеряется с помощью микроскопа, который получает набор сотен изображений на разных высотах и плоскостях объекта. Однако новая технология позволяет существенно уменьшить время сбора этой коллекции изображений.
Для реализации новой технологии была использована сверхбыстрая жидкая линза, разработанная профессором Марти Дуокастелла, которая позволяет сканировать тысячи раз в секунду, а также программируемый встроенный массив (FPGA) для синхронизации световых импульсов и захвата изображения с камеры.
