За 20 лет исследований в лабораториях ЭМС, я выяснил прямую зависимость между прочностью изоляции отдельных цепей и в совокупности всех цепей - их измеренные параметры, на влияние результатов по ЭМС тестированию изделия, пришел к очень интересному выводу и выстроил некую таблицу закономерностей влияния одного на другое, при каком напряжении прочности изоляции каких портов могут быть сбои в других портах при тестировании на ЭМС в частности микросекунды, наносекунды, бегущая, волна, звенящая волна и часть кондуктивных помех. Даже измерении эмиссии от изделия и эмиссии от порта питания тоже меняются при изменении параметров сопротивления и прочности изоляции тех или иных портов.
А это дает возможность измерить изделие за 15 минут и сразу спрогнозировать его поведение при ЭМС тестах которые занимают время около 40-70 часов.
За одну статью этого сразу не опишешь, данную тему я подробно рассказываю на курсах повышения квалификации для инженеров тут.
подробнее на сайте https://emc-tehnology.ru