Разработка приборов и технологий отечественной микроэлектроники входит в число приоритетных задач, стоящих перед российскими учёными. Сотрудник лаборатории детекторов синхротронного излучения Томского госуниверситета Александр Винник работает над созданием метода неразрушающего контроля пластин, которые используются в качестве основы для полупроводников. Новый подход с использованием ИК-излучения позволит существенно сократить финансовые затраты и время на исследование дефектов в структуре пластин. Проект разрабатывается при поддержке программы УМНИК Фонда содействия инновациям. – В настоящее время для контроля качества подложки, на которую устанавливаются сенсоры, используется разрушающий метод – DSL-травление пластины, – поясняет научный сотрудник лаборатории детекторов синхротронного излучения ТГУ Александр Винник. – При этом применяются агрессивные химические реактивы, которые разрушают подложку. Вместе с тем метод травления является недостаточно надёжным инструментом для выявления
Учёный ТГУ создаёт новый способ контроля качества полупроводников
3 марта 20233 мар 2023
127
2 мин