Китайские исследователи обнаружили главную причину дефектов в перспективном полупроводниковом материале – нитриде галлия (GaN). Материал имеет решающее значение для разработки передовой электроники, в частности, используемой в военных целях. Прорыв может позволить Китаю значительно расширить сектор производства GaN. Группа исследователей под руководством профессора Хуанга Бинга и его сотрудников из Пекинского университета выявила главную причину дефектов при выращивании кристаллов GaN. Для производства GaN обычно используются подложки из кремния и сапфира. Они обнаружили, что проблема связана с дислокационными дефектами, которые нарушают кристаллическую структуру, что приводит к утечкам и снижению производительности. Команда выявила эти дефекты, ведь GaN имеет гексагональную атомную структуру, которая отличается от кубической структуры кремния. В отличие от дефектов в кремнии, которые обычно возникают из-за скольжения (движения вдоль плоскости), процесс, который промышленность научилас
Китайский прорыв в полупроводниках 3-поколения GaN улучшит военные технологии
24 февраля24 фев
40,1 тыс
2 мин