В этой части приведу в качестве примера несколько результатов измерений с помощью NanoVNA F2 с некоторыми комментариями.
Для начала стоит упомянуть о имеющейся в продаже тестовой плате специально для NanoVNA. Кстати тоже от компании SYSJOINT. На плате размещены несколько тестовых ВЧ цепей, а также калибровочные меры. Для присоединения к плате используются переходные кабели с одной стороны SMA, а с другой какие-то мелкие IPEX коннекторы (точную марке не скажу, их вроде несколько разных бывает). Поэтому собственно и нужны еще калибровочные меры на плате, чтобы исключить влияние кабелей.
Соответственно первые несколько примеров из набора тестовой платы:
1. Заграждающий фильтр на 6.5 МГц (пример 5 на плате). Вроде более менее похоже. Первая картинка - фото с экрана прибора, вторая скриншот из Windows приложения NanoVNA Saver.
2. Полосо-пропускающий фильтр на 10.7 МГц (пример 6 на плате). Полоса похожа, потери однако высоковаты (как впрочем и в предыдущем случае). В описании к примерам подробно не описано каких результатов следует ожидать. Первая картинка - фото с экрана прибора, вторая скриншот из Windows приложения.
3. Нагрузки на плате 33 и 75 Ом (примеры на плате 3 и 4). В обоих случаях КСВ ожидается 1.5, что и видим. Однако отличается положение на диаграмме Смита. Во всех трех примерах измерение проводилось в полосе частот 50 кГц - 20 МГц. Для измерения фильтров в описании рекомендовано было поуже полосу задать, для нагрузок соответственно заметно пошире. Я для экономии времени в одной частотной полосе померил.
4. Пока была возможность провел несколько сравнительных измерений с Agilent ENA E5071C. Для ENA выходная мощность 0 дБм, частоты и количество точек те же (ifbw не помню, какое-то среднее значение). Калибровочные наборы у каждого свои, для ENA 85052D. Поскольку у NanoVNA калибровочные меры "male" и калибровался с бочонком SMA(f)-SMA(f), то и ENA калибровал с тем же бочонком из комплекта NanoVNA.
В целом NanoVNA показывает примерно заявленные результаты. До 1.5 - 2 ГГц вполне можно измерять уровни ослабления -60 дБ и грубо-оценочно до -70 дБ.
ENA конечно дает более качественную картинку и при желании можно настроить прибор для измерения еще больших уровней ослабления.
5. Еще сравнил согласованную нагрузку из комплекта NanoVNA. Поскольку NanoVNA калибровался с этой нагрузкой, то он показывает более низкий уровень КСВ, близкий к 1. Однако у NanoVNA график более "зашумленный", особенно на высоких частотах.
6. Также сравнил нагрузку с КСВ близким к 2. Результаты более менее похожи, впрочем у NanoVNA опять более "зашумленный" график с выбросами (впрочем речь идет о сотых долях)
7. Следующий пример с преобразованием из частотной во временную область. Данный режим в основном используется для определения местоположения дефектов в длинных ВЧ трактах. В качестве примера взял кусок древнего кабеля РК-75. С одной стороны стандартный ТВ штекер, с другой стороны оборван. Длина примерно 1.43 м. Кабель тонкий (около 4мм по внешней изоляции), заполнение сплошной полиэтилен. Оплетка одинарная. Настройки преобразования во временной области на приборе - по умолчанию. Коэффициент укорочения 66% (как рекомендуют для сплошного полиэтилена)
Ну и собственно ниже картинка на экране прибора. Первый пик это переходы SMA - F - ТВ штекер. Затем как раз на 1.4 м пик это оборванный конец кабеля. Далее еще один пичок за пределами отрезка кабеля это видимо эффект многократных переотражений в тракте. Также во временной области значения КСВ ниже чем видим в частотной. Плюс тут в настройках не задаются потери в тракте, а только коэффициент укорочения, что также маскирует истинное значение КСВ.
Пока все, может быть потом еще что-то добавлю.
Другие части:
NanoVna F V2 от SYSJOINT. Часть 1. Общая информация.
NanoVna F V2 от SYSJOINT. Часть 3. Дополнительная информация.