Найти в Дзене
KMT-Belovo

Терморезисторы

Терморезисторы (ТР) — это полупроводниковые тепловые приборы, способные изменять свое электрическое сопротивление при изменении их температуры. Наибольшее распространение получили терморезисторы (ТР) с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления (ТКС). По конструкции и назначению различают ТР прямого и косвен­ного подогрева. ТР прямого подогрева изменяют свое сопротивле­ние под влиянием тепла, выделяющегося в них при прохождении элек­трического тока, или в результате изменения температуры окружаю­щей среды. В ТР косвенного подогрева имеется подогреватель, который служит дополнительным источником тепла. Сопротивле­ние такого ТР изменяется за счет энергии подогревателя. Уменьшение сопротивления полупроводника от увеличения тем­пературы может быть вызвано возрастанием концентрации носи­телей заряда или их подвижности или фазовыми превращениями полупроводникового материала. Температурное изменение сопротивления ТР имеет экспоненци­альный характер. Большую часть ТР с отрицательн

Терморезисторы (ТР) — это полупроводниковые тепловые приборы, способные изменять свое электрическое сопротивление при изменении их температуры. Наибольшее распространение получили терморезисторы (ТР) с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления (ТКС).

По конструкции и назначению различают ТР прямого и косвен­ного подогрева. ТР прямого подогрева изменяют свое сопротивле­ние под влиянием тепла, выделяющегося в них при прохождении элек­трического тока, или в результате изменения температуры окружаю­щей среды. В ТР косвенного подогрева имеется подогреватель, который служит дополнительным источником тепла. Сопротивле­ние такого ТР изменяется за счет энергии подогревателя.

Уменьшение сопротивления полупроводника от увеличения тем­пературы может быть вызвано возрастанием концентрации носи­телей заряда или их подвижности или фазовыми превращениями полупроводникового материала.

Температурное изменение сопротивления ТР имеет экспоненци­альный характер.

Большую часть ТР с отрицательным ТКС изготовляют из поли­кристаллических оксидных полупроводников. Обычно используют смеси оксидов никеля и марганца; никеля, марган­ца и кобальта; меди, ко­бальта и марганца и др. Методами керамической технологии путем высоко­температурного обжига за­готовок из оксидных полу­проводников изготовляют ТР в форме стержней, тру­бок, дисков. На рис. 3.62 показано устройство терморезис­тора. При этой технологии ве­лик разброс параметров одно­типных образцов ТР.

Эти недостатки устраняют в ТР, изготовленных из монокристаллов ковалентных полупроводников (кремния, германия, карбида крем­ния и др.). Зависимость сопротив­ления этих полупроводников опре­деляется в основном изменением концентрации носителей заряда

Примерами промышленных образцов ТР служат приборы ти­пов СТ1-19, СТ3-21, СТ3-25, КМТ-1 и др. ТР применяются для ста­билизации напряжения, измерения мощности СВЧ колебаний, ин­дикации лучистой энергии, измерения и регулирования температу­ры и термокомпенсации элементов в электрических схемах.

Правила монтажа и эксплуатации полупроводниковых приборов

Правила монтажа

При монтаже электронных схем транзисторы крепят за корпус. Чтобы не нарушить герметизацию, изгиб внешних выводов выпол­няют не ближе 10 мм от проходного изолятора (если нет других ука­заний). Запрещается изгиб жестких выводов мощных транзисторов.

Пайку внешних выводов электродов производят не ближе 10 мм от корпуса паяльником мощностью до 60 Вт легкоплавким припо­ем с температурой плавления около 150 °С. В процессе пайки необ­ходимо обеспечить хороший отвод тепла между корпусом прибора и местом пайки и выполнять ее возможно быстрее (не более 3 с).

Транзисторы нельзя располагать вблизи тепловыделяющих эле­ментов (сетевых трансформаторов, мощных резисторов), а также в сильных электромагнитных полях. Следует предусматривать защиту транзисторов от воздействия влаги и радиации.

Мощные транзисторы необходимо плотно соединять с радиато­ром. Для улучшения теплового контакта поверхности транзистора и радиатора рекомендуется смазывать невысыхающим маслом или припаивать легкоплавким припоем. В схемах, требующих изоляции транзисторов от шасси, с целью снижения теплового сопротивле­ния изоляционной прокладки целесообразна изоляция не транзис­тора от теплоотвода, а теплоотвода от шасси.

Правила эксплуатации

При включении транзистора в схему необходимо уточнить их структуру (p-n-p или n-p-n) и соблюдать полярность подключения внешних источников. К внешним зажимам эмиттера и базы напря­жение источника подключают в проводящем, а к коллекторному пе­реходу — в обратном направлении. При подключении транзистора к источнику питания первым присоединяют вывод базы, последним вывод коллектора, а при отключении — в обратном порядке. Запре­щается подавать напряжение на транзистор с отключенной базой.

Для увеличения надежности и долговечности приборов рабочие напряжение, ток, мощность и температуру необходимо выбирать меньше предельно допустимых (около 0,7 их значения).

Не допускается использовать транзисторы в совмещенных предель­ных режимах хотя бы по двум параметрам (например, по току и на­пряжению).

Причины отказов

Отказы в работе полупроводниковых приборов вызываются механическими дефектами, неправильной эксплуатацией, нару­шениями температурных условий работы и др. Причина корот­ких замыканий в транзисторах— неравномерная толщина базы, трещина в p-n переходах и др. Причём при ряде дефектов, напри­мер пробое одного перехода, транзистор не теряет полностью свою работоспособность, а трансформируется в более простой прибор — диод.

При слишком большой скорости нарастания тока тиристора может произойти разрушение кристалла прибора. Вследствие де­фектов p-n переходов тиристоры, так же как и биполярные транзи­сторы, могут трансформироваться в более простые полупроводни­ковые приборы. Например, триодный тиристор может работать из- за дефектов p-n переходов как диодный тиристор или диод. Должны быть приняты меры, чтобы такие дефекты не вызывали опасные нарушения в работах систем.

У полупроводниковых приборов внезапные отказы обусловле­ны пробоем p-n переходов, обрывами и перегревами внутренних выводов, короткими замыканиями в структуре, растрескиванием кристалла. Большая часть (~90 %) внезапных отказов полупровод­никовых приборов приходится на пробои p-n переходов. Вероят­ность обрыва или перегорания внутренних выводов возрастает при воздействии на полупроводниковый прибор вибраций, ударов, а также цикличных изменениях его температурных условий. Интен­сивность внезапных отказов практически не зависит от времени. Старение полупроводниковых приборов обусловлено возрастани­ем интенсивности постепенных отказов. Срок службы полупровод­никовых приборов составляет более 104 часов.

Постепенные отказы вызываются физическими и химическими процессами в объёме и на поверхности кристалла, сплавов и при­поев контактов. Они проявляются в форме постепенного роста об­ратных токов p-n переходов, снижения коэффициентов передачи токов транзисторов, увеличения уровня собственных шумов.