Уважаемые коллеги, доброго времени суток! Представляем вам нидерландское научное издание Spectrochimica Acta - Part B: Atomic Spectroscopy. Журнал имеет второй квартиль, издается в Elsevier, его SJR за 2020 г. равен 0,793, импакт-фактор - 3,752, электронный ISSN - 0584-8547, предметные области - Спектроскопия, Контрольно-измерительные приборы, Атомная, молекулярная физика и оптика, Аналитическая химия. Вот так выглядит обложка:
Здесь два редактора - Маргарета де Лоос - Воллебрегт, контактные данные - margaretha.deloos@ugent.be и Алессандро де Джакомо - alessandro.degiacomo@uniba.it.
https://www.researchgate.net/profile/Alessandro-De-Giacomo
Журнал предназначен для быстрой публикации как оригинальных работ, так и обзоров в следующих областях:
- Атомно-эмиссионная (AES),
- Атомно-абсорбционная (AAS) и атомно-флуоресцентная (AFS) спектроскопия;
- Масс-спектрометрия (MS) для неорганического анализа, охватывающего источник искры (SS-MS), индуктивно связанную плазму (ICP-MS), тлеющий разряд (GD-MS) и вторичная ионная масс-спектрометрия (SIMS);
- Лазерно-индуцированная атомная спектроскопия для неорганического анализа, включая нелинейно-оптическую лазерную спектроскопию, охватывающую лазерную усиленную ионизацию (LEI), лазерно-индуцированную флуоресценцию (LIF), спектроскопию резонансной ионизации (RIS) и резонансную ионизационную масс-спектрометрию (RIM);
- Спектроскопию лазерного пробоя (LIBS);
- Спектроскопию кольцевого разрыва (CRDS), атомно-эмиссионную спектроскопию лазерной абляции с индуктивно связанной плазмой (LA-ICP-AES) и масс-спектрометрию лазерной абляции с индуктивно связанной плазмой (LA-ICP-MS).
- Рентгеновская спектрометрия, рентгеновская оптика и микроанализ, включая рентгенофлуоресцентную спектрометрию (XRF) и связанные с ней методы, в частности рентгенофлуоресцентную спектрометрию с полным отражением (TXRF) и рентгенофлуоресцентную спектрометрию с полным отражением, возбуждаемую синхротронным излучением (SR-TXRF).
Рукописи, касающиеся основ, разработки методологии, инструментария и приложений, также могут быть представлены для публикации.
Адрес издания - https://www.journals.elsevier.com/spectrochimica-acta-part-b-atomic-spectroscopy
Пример статьи, название - Determination of some elements in the nails in patients with colon cancer using total reflection X-ray fluorescence. Заголовок (Abstract) - Sixty-two subjects (31 men with colon cancer) participated in this study. The analysis of elements in the nails was performed by total reflection X-ray fluorescence (TXRF) technique. The results showed that fifteen elements were quantified, including the following: S, P, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, As, Se, and Br. We have found that there were significant differences in the concentrations of elements Ca, Cr, Fe, Cu, Zn, As, and Se between normal subjects and men with colon cancer (p < 0.05). We conclude that TXRF is a technique suitable for elemental analysis in human nail samples. The concentration of elements Ca, Cr, Fe, Cu, Zn, As, and Se could be among the factors used for the diagnosis of colon cancer risk in men.
Graphical abstract
Keywords: Nail; Total reflection X-ray fluorescence; Elemental analysis; Colorectal cancer
