Высокопроизводительные электрооптические (E-O), оптоэлектронные (O-E) и оптические (O-O) устройства широко используются в оптической связи, микроволновой фотонике, волоконных датчиках и т. Д. Измерение амплитудных и фазовых характеристик важно для разработки и изготовления этих устройств. Тем не мение,
предыдущие методы вряд ли могут охарактеризовать устройства E-O, O-E и O-O с произвольными