Водорастворимые полимеры, используемые в качестве покрытий
Ферментативная полимеризация самособирающихся амфифильных производных тирозина из алкильных эмульсий позволяет получать водорастворимые полимеры, которые легче обрабатывать по сравнению с полифенолами. DELT полимеры образуют тонкую пленку на поверхности при контакте с водой. Данные пленки могут использоваться для удаления органических растворителей и других токсичных реагентов, используемых в настоящее время в технологиях нанесения полимерных покрытий. Такие покрытия обеспечивают как химическую защиту, так и электрическую изоляцию металлических проводников, покрытых золотом, во время процессов обработки. Такие покрытия в настоящее время представляют больший интерес по сравнению с покрытиями на основе эпоксидных смол, так как они не вредны для окружающей среды и являются более дешевыми.
Такие полимерные покрытия можно исследовать без какого-либо повреждения с помощью атомно-силового микроскопа XE7. Это обеспечивается за счет уникального бесконтактного режима исследования True Non-Contact, запатентованного компанией Park Systems. На рисунке ниже представлены изображения, полученные с помощью данного микроскопа. На них показано, что полимерная пленка представляет собой структуру из полусфер диаметром около 1 мкм.
Исследование полимеров атомно-силовым микроскопом
На рисунке 2 представлено трехмерное изображение данного полимера. С его помощью можно исследовать данную структуру как целиком, так и каждую полусферу в отдельности, а именно получать информацию о высоте. Такой анализ оказывается даже более подробным и полезным, чем анализ с помощью электронной микроскопии (SEM), так как позволяет исследовать любую желаемую область образца.
Исследование двуосноориентированных полипропиленовых пленок (BOPP)
Поверхность BOPP имеет волокнистую структуру, которая определяется коэффициентом вытягивания в двух перпендикулярных направлениях, т.е. продольное направление (MD) и поперечное направление (TD). Морфология такой полимерной пленки была изучена с помощью атомно-силового микроскопа XE7.
Для того, чтобы получить полное представление о данном материале, необходимо определить, как именно эта волоконная структура распределена по всей толщине пленки. Используя АСМ XE7, Вы сможете с легкостью получить ответы на все вопросы. А возможность автоматического подведения кантилевера к поверхности образца, чтобы не повредить его, уникальный режим сканирования True Non-Contact и ПЗС-камера высокого разрешения делают эту задачу еще проще.
Атомно силовой микроскоп XE7 выполнен по уникальному дизайну с двумя независимыми сканерами в плоскости XY и вдоль оси Z. В дополнение, ПЗС-камера перемещается одновременно с Z-сканером, что позволяет Вам отслеживать расстояние до поверхности образца и быстро подводить кантилевер к его поверхности (на расстояния до нескольких мм).
После того, как кантилевер подведен достаточно близко к поверхности образца, объектив ПЗС-камеры может двигаться независимо. Таким образом, поверхность образца будет находиться в фокусе камеры, а кантилевер будет находиться еще за фокусным расстоянием. Далее, отдельно подводя кантилевер к поверхности образца, Вы можете подвести его еще ближе к образцу. В итоге Вы можете подвести кантилевер на такое расстояние, чтобы получить хорошее изображение полимерной пленки.
На рисунке ниже представлено полученное изображение полимерной пленки в двух направлениях. Видно, что пленка имеет хорошо различимую волокнистую структуру, а также показано, что данная структура имеет место по всей толщине BOPP пленки. В добавление можно сказать, что в зависимости от направления разреза пленка имеет несколько разную структуру.
Подробные характеристики атомно-силового микроскопа Park ХЕ7