Оценочная платформа драйверов затвора для МОП-транзисторов на основе SiC

Компания Littelfuse Technology разработала оценочную платформу драйверов затвора LF-SIC-EVB-GDEV1 для МОП-транзисторов и диодов на основе карбида кремния.

Система GDEV состоит из материнской платы, на которую устанавливаются модули драйверов затвора, что позволяет сравнивать эффективность различных решений для конфигурации полумоста на силовых МОП-транзисторах и диодах SiC.

Кроме того, платформа предоставляет тестовые схемы драйверов затвора для оценки тепловых характеристик и помехоустойчивости в условиях непрерывной работы.

Оценочная платформа GDEV дает возможность:

• Оценить работу силовых МОП-транзисторов и диодов SiC при номинальном напряжении и номинальном токе в режиме непрерывной работы;
• Анализировать влияние системного построения на КПД, уровень ЭМИ, количество пассивных компонентов, размер, вес и стоимость конечного устройства;
• Сравнить рабочие параметры различных решений драйвера шлюза в четко определенных и оптимизированных условиях тестирования;
• Проверить цепи управления затвором в условиях непрерывной работы для оценки тепловых характеристик драйвера и его устойчивости к электромагнитным помехам

Рис. 1. Структурная схема отладочной платформы

Рис. 2. Модуль драйвера затвора с высоким выходным током

Рис. 3. Модуль драйвера затвора с функциями защиты

Производители: Littelfuse

Разделы: Демонстрационные платы